宜特推出OCP NIC 3.0 PCIe Gen6測試治具 助力高速運算驗證挑戰

2025 年 06 月 13 日

面對高速運算應用不斷推升的驗證挑戰,宜特宣布推出OCP NIC 3.0 PCIe Gen6測試治具,並同步提供完整測試解決方案,協助客戶搶占新世代資料傳輸市場先機。

宜特觀察到,隨著人工智慧(AI)及高效能運算(HPC)快速普及,資料中心規模持續擴張,AI模型訓練對通道傳輸速度與頻寬的需求也大幅增加。從採用x86架構的Intel Diamond Rapids與AMD Venice SP7,皆支援PCIe 6.0(週邊元件互連快速通道)技術,甚至於具備低成本、高效能特性的ARM架構有可能也會陸續跟進。

為協助客戶提前因應未來驗證需求,宜特已完成PCIe 6.0非標準接口測試治具的自主開發,不僅符合週邊元件互連標準協會(PCI-SIG)制定的頻寬標準,也可客製支援各式高速傳輸應用場景,為客戶提供最全面的驗證支援。

宜特於2025年第一季即完成OCP NIC 3.0 PCIe Gen6測試治具開發,第二季開始進入正式量產。該治具在阻抗與損耗控制方面皆達協會標準,並依照PCI-SIG校驗流程完成測試,可真實呈現待測物的訊號表現。後續也將陸續推出如EDSFF 1C/2C、M.2等不同接口的測試治具,擴大應用範圍。

宜特訊號測試事業處處長王尚杰表示:「目前已有客戶提出OCP NIC 3.0 PCIe Gen6的測試需求。我們提前掌握市場規格,率先開發非標準OCP 3.0接口,提供完整的PCIe 6.0驗證解決方案,協助客戶快速確認產品是否符合設計預期。也與客戶共同評估是否需額外配置重定時器(Re-Timer)或提升PCB材料等級。」

王尚杰進一步指出,為持續滿足客戶高階應用需求,宜特已在2024年超前部署,投入可支援PCIe 6.0及乙太網路(Ethernet)400/800G的測試解決方案開發。2025年初,更攜手合作夥伴進行治具聯合開發,確保客戶產品設計品質、降低開發成本風險。針對未來市場動能,公司亦將超前評估乙太網路1.6T的測試規格與解決方案可行性。

目前,宜特已全面就緒,迎接PCIe 6.0測試服務挑戰。不僅提供完整測試環境,更能應用於IC晶片、系統端與周邊裝置等相關領域,協助客戶強化高速運算產品的穩定性與效能,共同推動AI及資料中心產業的持續升級與發展。

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